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耐高温EtherCAT IO模块怎么选？90℃卡片式IO模块高温老化测试解析

更新时间：2026-09-19 11:25:03 耐高温EtherCAT IO模块怎么选？90℃卡片式IO模块高温老化测试解析

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为什么高温环境需要耐高温EtherCAT IO模块？

工业设备内部空间有限，电子模块长期处于高温环境
控制柜、设备腔体、烘箱、老化设备等环境温度较高
普通IO模块在高温环境下可能出现通信异常、采集漂移、响应异常等问题
EtherCAT网络对通信实时性和稳定性要求较高
因此，除了IO功能本身，还需要验证模块在高温环境下的长期运行能力

90℃耐高温EtherCAT卡片式IO模块

耐高温EtherCAT IO模块

EtherCAT 卡片式 IO 模块是一款模块化结构设计设备。EtherCAT 适配器可扩展接入最大 32 个I/O 模块，通过 EtherCAT 总线实现实时数据通信。为用户提供高速数据输出、数据采集和优化系统配置，简化现场配线提高系统可靠性等提供保障。

EtherCAT 适配器支持扩展模块类型丰富，可扩展数字量输入模块、数字量输出模块、模拟量输入模块和模拟量输出模块等。可满足各类行业工业自动化控制应用。

产品组合

EtherCAT 卡片式 IO 模块是由 EtherCAT 适配器、数字量输入模块（DI）、数字量输出模块（DO）、模拟量输入模块（AI）和模块量输出模块（AO）组成。1 个适配器最多可接入 32 个扩展模块灵活组合使用。

序号	类别	名称	型号	说明
1	适配器	适配器模块	GME2032	EtherCAT适配器，最多支持32个扩展模块
2	DI模块	DI扩展模块	GEA1016	16路DI扩展模块,NPN输入
3	DI模块	DI扩展模块	GEA2016	16路DI扩展模块,PNP输入
4	DO模块	DO扩展模块	GEB1016	16路DO扩展模块,NPN输出
5	DO模块	DO扩展模块	GEB2016	16路DO扩展模块,PNP输出
6	AI模块	AI扩展模块	GEC2004	4路AI扩展模块,0~10V输入
7			GEC2008	8路AI扩展模块,0~10V输入
8			GEC5004	4路AI扩展模块,4~20mA输入
9			GEC5008	8路AI扩展模块,4~20mA输入
10	AO模块	AO扩展模块	GEU2004	4路AO扩展模块,0~10V输出
11			GEU2008	8路AO扩展模块,0~10V输出
12			GEU5004	4路AO扩展模块,4~20mA输出
13			GEU5008	8路AO扩展模块,4~20mA输出

EtherCAT 卡片式 IO 模块高温老化测试

	产品名称		产品型号	数量
耐高温测试	适配器模块		GME2032	2 个
	DI扩展模块		GEA2016	2 个
	DO 扩展模块		GEB2016	2 个
	AI扩展模块		GEC5008	2 个
	AO 扩展模块		GEU5008	2 个
	TC 扩展模块		GEC8008	1 个
	测试项目	高温老化测试	测试日期	2026 年 5 月
1、测试硬件拓扑图

2、测试前置条件：
2.1 烤箱内与烤箱外各一套 GME2032、GEB2016、GEA2016、GEU5008、GEC5008 模块。
2.2 烤箱内开关量、模拟量输入输出模块分别接烤箱外开关量、模拟量输出输入模块。
2.3 测试烤箱内产品在 90°C 度环境正常工作，模拟设备在高温环境下工作，试验周期 72 小时。

3、测试目的：
3.1 测试烤箱内的产品 GEA2016 与 GEB2016 输入输出模块丢包率为 0% ，GEU5008 与 GEC5008 输入输出模块精度≤1% ，温度输入模块精度≤1℃。
3.2 测试烤箱内产品与 PLC 通讯正常。

4、判定标准：
4.1 测试过程中产品规定的功能或性能达到预期结果视为合格。
4.2 测试过程中任意一项或多项功能达不到预期结果均判定为不合格。

5、测试环境及工具：
5.1 整个测试在公司调试室模拟测试。
5.2 测试主要配套工具：高低温试验箱、欧姆龙 NX1P2、昆仑触摸屏。

6、测试内容和步骤：
6.1 EtherCAT 卡片式开关量输入输出 GEA2016 与 GEB2016 模块测试丢包率。
步骤 1 ：PLC 每隔 30ms 触发烤箱内与外的 GEB2016 模块 16 个通道输出 1 次，记录实测输出次数。步骤 2：记录烤箱外与内GEA2016 模块 16 个通道的实测输入次数。步骤 3：烤箱内与外 GEB2016 输出次数对应 GEA2016 输入次数的差值为 0 视为正常。

6.2 EtherCAT 卡片式模拟量输入输出 GEC5008 与 GEU5008 模块测试精度≤1%。
步骤 1 ：PLC 对烤箱内与外的 GEU5008 模块 8 个通道分别每隔 3s 依次输出 5mA、 10mA、20mA，一直重复以上操作。
步骤 2：烤箱外与内 GEU5008 模块与 GEC5008 模块的差值就是误差值，记录 5mA、 10mA、 20mA 的最大最小误差值。
步骤 3：误差率≤1%视为正常。

6.3 EtherCAT 卡片式温度输入 GEC8008 测试精度≤1℃。
步骤 1 ：PLC 每隔 1s 采集 1 次 GEC8008 模块温度值。
步骤 2： GEC8008 模块温度值与烤箱设定温度的差值≤1℃视为正常。

编号	测试项目	预期结果	实测结果	判定
A	GEB2016 输出丢包率	丢包率0%	0%	通过
B	GEA2016 输入丢包率	丢包率0%	0%	通过
C	GEU5008 输出 20ma 误差率	误差率≤1%	0.7%	通过
D	GEC5008 输入 20ma 误差率	误差率≤1%	0.2%	通过
E	GEC8008 输入 90°C 误差	误差≤1°C	90.8°C	通过
F	GME2032 通讯故障	故障率 0%	0%	通过