蓝卫士温控 蓝卫士温控器 TEC温控器 光模块误码仪测试 高低温循环测试 激光器TEC控制 光模块温度控制 精密温控设备 误码率温度稳定性 光通信测试温控 光模块老化验证 温度闭环系统 TEC驱动温控 温度漂移抑制 高速光模块测试 恒温控制平台 光器件可靠性测试 制冷制热双向温控 温度控制精度 温度曲线控制 光模块环境应力测试 光电子测试温控
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更新时间:2025-12-06 17:18:25
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343 在高速光通信领域中,400G/800G/1.6T模块作为新一代数据中心与骨干网的核心器件,对其可靠性及误码率(BER)要求极高。在光模块研发、量产测试及验证阶段,需在不同环境温度下对其进行误码测试(BERT),以评估模块在高温、常温、低温环境下的性能稳定性。


蓝卫士TEC温控方案凭借高精度、快响应、双向控温、快速定制化等优势,为光模块误码测试提供了可靠的高低温环境模拟。显著提升了光模块误码测试的准确性与测试效率,是高端光通信测试仪器温控系统的理想解决方案。


支持多通道独立控温,每路均具备独立采集、执行,互不干扰。可分别设置不同目标温度,实现多模块同时测试或差异化验证,极大提高设备利用率与测试灵活性,特别适合多端口并行的光模块批量测试平台。

蓝卫士TEC温控器系列提供1、2、4、8通道等多种规格,支持TCP、RS485、RS232等多种通讯方式,可灵活集成于不同控制系统。丰富的型号配置满足从单点控温到多通道同步控制的多层次需求。
01提升测试精度与一致性
通过蓝卫士TEC温控器的高精度双向控温技术,实现温度稳定度优于±0.1℃,有效消除环境温度波动对误码测试的干扰。每个通道独立控温,确保光模块在不同热环境下测试结果的可重复性和一致性,为高速光模块性能验证提供可靠的温控保障。
02提高测试效率与自动化水平
支持多段控温,可在低温、常温、高温条件间快速切换。升降温速度快、响应时间短,大幅缩短测试周期。通过通讯接口与上位机系统联动,实现测试流程自动化,提高生产线整体测试效率。
03高度集成与运行可靠性
集成温度采集、驱动、控温一体,简化了布线与系统搭建。内置过温、过流、开路、短路等多重保护机制,确保设备在长时间连续运行中稳定可靠。
